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我们的服务 失效分析 功率模块LV/AQG 324认证试验
功率模块LV/AQG 324认证试验
AQG324制定了完善的车规级功率模块可靠性试验,可以有效验证产品可靠性,指导厂商更深入了解其产品可靠性能,从而加快产品开发速度,优化工艺流程。广电计量以LV/AQG324认证试验为基础,布局半导体功率模块验证相关技术能力,为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测,材料、器件与系统的可靠性验证以及失效分析服务。
服务介绍
功率半导体模块是新能源汽车中的核心部件之一,目前绝大多市场份额为国际巨头所垄断,而国产功率模块性能尚无法满足汽车核心装备应用,主要原因之一是可靠性有待提升。
 

测试周期:

2-3个月,提供全面的认证计划、测试等服务
 

产品范围:

适用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半导体器件等元件构成的功率模块。
 

测试项目:

序号 测试项目 缩写 样品数/批 测试方法
1 Thermal shock test TST 6 IEC 60749-25
2 Vibration V 6 DIN EN 60068-2-6
3 Mechanical shock MS 6 DIN EN 60068-2-27
4 Power cycling PCsec 6 IEC 60749-34
5 Power cycle PCmin 6 IEC 60749-34
6 High-temperature storage HTS 6 IEC 60749-6
7 Low-temperature storage LTS 6 JEDEC JESD-22 A119
8 High-temperature reverse bias HTRB 6 IEC 60747-9
9 High-temperature gate bias HTGB 6 IEC 60747-9
10 High-humidity, high-temperature reverse bias H3TRB 6 IEC 60749-5
11 Determining parasitic stray inductance Lp 6 IEC 60747-15
12 Determining thermal resistance Rth 6 DIN EN 60747-15
13 Determining short-circuit capability / 6 /
14 Insulation test / 6 /
15 Determining mechanical data / 6 /